X射线衍射法的残余应力测试仪

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  • 所在地: [北京/北京城区]
  • 发布时间:2021年2月4日
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北京华欧世纪光电技术有限公司

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详细信息
X射线衍射法的残余应力测试仪应力的测试方法中以X射线衍射法的应用*为普遍,因为其理论推导严格成熟,测量结果准确可靠,并且在测量表面残余应力时该方法完全是无损的。X射线衍射法可以测量应力沿层深的分布,测试光斑一般为?(1~5)mm,所测深度根据靶材和被测试材料的变化而有所不同。X射线衍射法的不足之处在于其只能测试晶粒均匀分布的材料,当被测试材料不能满足X射线衍射方法中要求材料均匀连续、各向同性的假设时(如织构材料、粗晶材料等),测试结果就会有较大的误差。同时,如果存在材料表面沿深度方向存在较强的应力梯度、衍射峰重叠、衍射强度很低、衍射峰过分宽化等现象时,也会降低X射线衍射法测试结果的准确性。因此,X射线衍射法对于无织构、近似均匀连续的金属零部件的应力测试结果准确,而对其他零部件的应力测试效果相对较差。
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